计算机工程

北大核心,CA,INSPEC,JST,Pж(AJ)

国内刊号:31-1289/TP

国际刊号:1000-3428

计算机工程杂志2024年第7期:基于RS和BCH码的SRAM-PUF密钥提取方法及性能分析

发布日期:

作者:周昱, 于宗光

单位:中国电子科技集团公司第五十八研究所, 江苏 无锡 214072

关键词:物理不可克隆函数,静态随机存取存储器,模糊提取器,里德-所罗门码,BCH码

物理不可克隆函数(PUF)是芯片制造过程中随机偏差形成的唯一和不可复制的物理指纹, 使用这个特征可以鉴别各个芯片, 然而PUF芯片因环境变化会影响输出, 导致在认证应用时可能失败。介绍了模糊提取器的密钥提取方法, 通过在静态随机存取存储器(SRAM)-PUF芯片中加入里德-所罗门(RS)硬解码, 在认证系统中加入BCH软解码模块, 纠正PUF在一定范围内变化来确保通过认证, 并对SRAM-PUF电路在三温下进行实验分析。实验结果表明, SRAM-PUF电路的PUF点分布有较好的均衡性, 在常温时可靠性接近100%, 在低温条件下可靠性范围为98.84%~100%, 在高温条件下, 可靠性范围为97.77%~99%, 当RS码和BCH码设计的纠错能力大于PUF可靠性时能够通过认证。

来源:2024年第7期

《计算机工程》期刊编辑部

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