计算机工程

作者：王涛, 何怡刚, 宁暑光, 孙豪, 朱战伟

单位：合肥工业大学 电气与自动化工程学院, 合肥 230009

关键词：Nakagami分布,衰落信道,Cramer-von Mises算法,拟合优度,累积分布函数,统计特性

基金：国家自然科学基金（51977153，51977161，51577046）；国家自然科学基金重点项目（51637004）；国家重点研发计划“重大科学仪器设备开发”（2016YFF0102200）。

Nakagami信道通过不同的衰落因子m可以仿真不同的信道衰落环境，仿真数据与实际测量值吻合度较高，在信道仿真领域得到广泛应用。然而，目前针对Nakagami信道模型的可信性研究较少，缺少科学的比对验证方法。根据典型Nakagami信道的一阶包络序列服从Nakagami分布这一信道统计特性，提出一种基于Cramer-von Mises （CvM）算法的拟合优度检验方法。使用“高斯+瑞利+直流”组合法建立Nakagami衰落信道模型，得到信道输出序列并从中提取包络序列。在此基础上，利用双样本CvM检验算法对包络序列的理论分布和实际分布进行拟合优度检验，实现对Nakagami信道模型的可信性评估。半实物仿真结果表明，与K-S检验、卡方检验和Z检验+卡方检验融合检验算法相比，CvM针对不同m下的Nakagami衰落信道均具有较好的识别性能，同时在可靠性和复杂度方面也具有优势，其对虚警概率为0.01以下的Nakagami衰落信道识别准确率达到92.6%，对样本长度为300 000以上的Nakagami衰落信道平均识别准确率达到96.4%，而当待检验信道为其他信道时，不存在误识别的情况。

来源：2022年第5期

《计算机工程》期刊编辑部

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